독일 Emtec사에서 발표한 "혁신적인 측정시스템을 이용하여 가공공정과 관련된 종이와 판지의 표면 파라미터 측정에 의한 비용 및 원료 절감" 자료를 첨부합니다.

본 자료는 PDA를 이용하여 종이와 판지의 표면  파라미터를 측정함으로써 어떻게 비용과 원료를 절감할 수 있는지 알려드릴 것입니다.